发明名称 | 氧化膜形成方法、氧化膜形成装置及电子元件材料 | ||
摘要 | 本发明系于至少含有氧及氢之处理气体存在的状态下,将基于氧及氢之电浆照射于电子元件用底材之表面,于该电子元件用底材之表面形成氧化膜。本发明系提供一种氧化膜形成方法及氧化膜形成装置,其系容易控制氧化膜之膜厚,且赋予良质之氧化膜者;及一种电子元件材料,其系具有此种良质之氧化膜者。 | ||
申请公布号 | TW200414355 | 申请公布日期 | 2004.08.01 |
申请号 | TW092119414 | 申请日期 | 2003.07.16 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 北川淳一;井出真司 |
分类号 | H01L21/316 | 主分类号 | H01L21/316 |
代理机构 | 代理人 | 陈长文 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |