发明名称 氧化膜形成方法、氧化膜形成装置及电子元件材料
摘要 本发明系于至少含有氧及氢之处理气体存在的状态下,将基于氧及氢之电浆照射于电子元件用底材之表面,于该电子元件用底材之表面形成氧化膜。本发明系提供一种氧化膜形成方法及氧化膜形成装置,其系容易控制氧化膜之膜厚,且赋予良质之氧化膜者;及一种电子元件材料,其系具有此种良质之氧化膜者。
申请公布号 TW200414355 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092119414 申请日期 2003.07.16
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 北川淳一;井出真司
分类号 H01L21/316 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本