发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明的课题系提供一种半导体装置,其避免不必要的矽化物之形成的同时,可减低接合漏电流。其解决之手段在于,半导体装置,包含元件隔离绝缘膜,其配设于半导体基板之表面,将元件区域隔离。于半导体基板表面内,有将闸极电极之下之区域包夹的方式形成之1对源极/汲极区域。矽化物膜系,配设于源极/汲极区域之表面上,延在至元件隔离绝缘膜上。元件隔离绝缘膜与矽化物膜上,配设有层间绝缘膜。接触孔系,贯通层间绝缘膜达至矽化物膜,一端及另一端分别位于矽化物膜上及元件隔离绝缘膜上。又,接触孔于底部且元件隔离绝缘膜之上部,具有一端与矽化物膜邻接之沟部。配线层配设于接触孔之内部。
申请公布号 TW200414273 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092118351 申请日期 2003.07.04
申请人 东芝股份有限公司 发明人 饭沼俊彦
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本