发明名称 | 形成接触窗的方法 | ||
摘要 | 本发明揭示一种接触窗(contact/via)的制造方法。首先提供一基底,在上述基底上依序形成具有不同蚀刻速率之第一介电层、第二介电层及第三介电层。接着,在上述第三介电层上,形成一图案化之罩幕层。以一蚀刻程序去除未被该罩幕层所覆盖之部分的第一介电层、第二介电层及第三介电层,直至裸露出该基底,以形成一接触窗开口。本发明之目的在于提供一个较佳之接触窗开口(contact/viahole)结构,增加次层金属层的覆盖(coverage)能力,以减少元件断线或是阻抗的增加。 | ||
申请公布号 | TW200414379 | 申请公布日期 | 2004.08.01 |
申请号 | TW092102181 | 申请日期 | 2003.01.30 |
申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 廖子毅;许建宙 |
分类号 | H01L21/60;H01L21/321 | 主分类号 | H01L21/60 |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路一号 |