发明名称 |
Vorrichtung zum Bestücken von Substraten mit Bauelementen und Verfahren zum Kalibrieren einer solchen Vorrichtung |
摘要 |
Zum Kalibrieren einer Vorrichtung zum Bestücken von Substraten mit Bauelementen wird vorgeschlagen, um einen Bestückbereich (4) herum Kalibriermarkierungen (11) anzuordnen, die mit einer am Bestückkopf (2) angeordneten Kamera (10) vermessen werden. Anhand der vermessenen Position der Kalibriermarkierungen (11) läßt sich ein Portalverzug (14) ermitteln. Dieser Portalverzug (14) wird während des Bestückprozesses kompensiert.
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申请公布号 |
DE10300518(A1) |
申请公布日期 |
2004.07.29 |
申请号 |
DE20031000518 |
申请日期 |
2003.01.09 |
申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
BARNOWSKI, FRANK;LANZL, LORENZ;OHNRICH, BERND;PRUEFER, MARTIN;WOERL, MANFRED |
分类号 |
H05K13/04;(IPC1-7):H05K13/08 |
主分类号 |
H05K13/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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