发明名称 METHOD FOR PLANARIZATION ETCH WITH i IN-SITU /i MONITORING BY INTERFEROMETRY PRIOR TO RECESS ETCH
摘要
申请公布号 EP1440466(A2) 申请公布日期 2004.07.28
申请号 EP20020776412 申请日期 2002.10.30
申请人 LAM RESEARCH CORPORATION 发明人 BRALY, LINDA;VAHEDI, VAHID;EDELBERG, ERIK;MILLER, ALAN
分类号 H01L27/04;H01L21/321;H01L21/3213;H01L21/763;H01L21/822;H01L21/8242;H01L27/108;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L27/04
代理机构 代理人
主权项
地址