发明名称 |
Verbesserter Transistor mit abgesenktem Gate und ein Verfahren zur Herstellung desselben |
摘要 |
Beim Herstellen eines Transistors mit abgesenktem Gate werden eine Kanalimplantation und eine Source/Drain-Implantation mittels einer einzelnen Implantationsmaske vor der Herstellung einer Gateöffnung ausgeführt. Danach wird die Gateöffnung bis zu einer Tiefe gebildet, die sich im Wesentlichen zu dem Kanalimplantationsgebiet erstreckt, so dass angehobene Drain- und Sourcegebiete geschaffen werden, die im Wesentlichen eben zu der in der Gateöffnung gebildeten Gateelektrode sind. Folglich können kostenintensive und komplexe epitaxiale Wachstumsschritte vermieden.
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申请公布号 |
DE10261145(A1) |
申请公布日期 |
2004.07.22 |
申请号 |
DE20021061145 |
申请日期 |
2002.12.27 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC. |
发明人 |
KRUEGER, CHRISTIAN;FEUDEL, THOMAS;GRIMM, VOLKER |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/8242;H01L29/78;(IPC1-7):H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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