发明名称 |
利用多个探测器面板的容积测定CT系统和方法 |
摘要 |
一种用于在非侵入式成像系统(10),如CT医疗成像系统(50)中提供可配置的视场的方法和装置。提供有包括两个或更多个平面板X射线探测器(68)的探测器结构(22),以便于可配置的视场可包围两个或更多个X射线探测器(68)的全部面积或所述全部面积的任何适宜的子集(74)。基于可接受的视场并且结合可接受的扫描速度,可对视场加以配置。 |
申请公布号 |
CN1513419A |
申请公布日期 |
2004.07.21 |
申请号 |
CN200310124055.5 |
申请日期 |
2003.12.31 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
W·罗斯;P·M·埃迪克;S·巴苏;N·伊沙克;D·沃尔特;J·麦克莱奥 |
分类号 |
A61B6/03;A61B6/00 |
主分类号 |
A61B6/03 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
王岳;张志醒 |
主权项 |
1.一种用于非侵入式获取表示目标内部特征的图像的方法,包括:从X射线源(12)发射X射线束(16),以便于至少X射线束(16)的一部分(20)穿过目标;在探测器(22)上探测至少所述X射线束(16)的所述一部分(20),所述探测器(20)包括两个或更多个平面板X射线探测器(68),其产生在任意视场内的响应于所述X射线束(16)的所述一部分(20)的两个或更多个信号,其中所述任意视场被限定在由所述两个或更多个平面板X射线探测器(68)所包围的面积之内;获取在所述任意视场内的所述两个或更多个信号;以及处理来自所述任意视场的所述两个或更多个信号,以重建表示目标内部特征(66)的图像(64)。 |
地址 |
美国纽约州 |