发明名称 | 自动测试系统 | ||
摘要 | 一种自动测试系统,其包括:取样转换装置及微处理器。取样转换装置用以撷取待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数位信号。微处理器用以接收上述数位信号以分别完成复数不同之短路保护测试、复数不同之过电流保护测试及复数不同之过电压保护测试。微处理器依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。 | ||
申请公布号 | TW200412437 | 申请公布日期 | 2004.07.16 |
申请号 | TW092100395 | 申请日期 | 2003.01.09 |
申请人 | 台达电子工业股份有限公司 | 发明人 | 刘肯和;王利平;毛长根;张华良 |
分类号 | G01R31/02 | 主分类号 | G01R31/02 |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山工业区兴邦路三十一之一号 |