存储器试验装置

摘要

一种对并行输入/并行输出型存储器和串行输入/串行输出型存储器进行试验的存储器试验装置，在对串行输入/串行输出型存储器进行试验时，能够将串行输出的读出数据中的失效数据按位分开，且在时间轴的不同时刻存储到不良解析存储器中，并能够确定不良位的位置。在逻辑比较器13的输出侧设置选取来自被试验存储器10之端子的输出的失效多路转换器14，在所述失效多选择器与不良解析存储器15之间设置位选择器17，在对串行输入/串行输出型存储器进行试验的时候，由该位选择器将从失效多路转换器输出的串行失效数据按位分开，且在时间轴的不同时刻提供给不良解析存储器，并在不良解析存储器中存储不良位的位置。

主权项

1、一种存储器试验装置，其特征在于，包括：图形发生器，向并行输入/并行输出型的被试验存储器输出并行的地址图形信号、并形的试验图形信号、并形的期望值数据，向串行输入/串行输出型的被试验存储器输出串行的地址图形信号、串行的试验图形信号、串行的期望值数据；逻辑比较器，对被试验存储器的输出和由所述图形发生器供给的期望值数据进行比较；失效多路转换器，从失效数据中选择并取出所需的位数据，所述失效数据表示从所述逻辑比较器输出的被试验存储器的不良单元位置；不良解析存储器，存储由所述失效多路转换器取出的失效数据；位选择器，被插入在所述失效多路转换器与不良解析存储器之间，在对所述串行输入/串行输出型的被试验存储器进行试验时，将从所述失效多路转换器输出的串行失效数据变换成按各个位地址分开的失效数据，并存储在所述不良解析存储器中。