发明名称 | 绝缘设备诊断系统和局部放电探测方法 | ||
摘要 | 一种绝缘设备诊断系统能够以高灵敏度和高精度来判断设备的老化,寿命,缺陷等。在多个特定频率上测量每一个电压相位角的强度,取高电压相位角作为横坐标。从某一时间段中保持所测强度峰值所得到的频谱分布的图形和强度来判断设备的老化,寿命和不正常的种类及程度。根据本发明,可以高灵敏度和高精度地测量局部放电,从而诊断设备的老化、寿命和缺陷程度。 | ||
申请公布号 | CN1510429A | 申请公布日期 | 2004.07.07 |
申请号 | CN200410003891.2 | 申请日期 | 1997.12.08 |
申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 六户敏昭;远藤奎将;山极时生;篠原亮一 |
分类号 | G01R31/00;G01R31/12 | 主分类号 | G01R31/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 冯谱 |
主权项 | 1.一种局部放电探测方法,包括的步骤有:从输入端输入局部放电信号;产生图形,该图形通过同步元素在多个分析频率下与时间同步;以及从所产生的图形或强度来诊断设备的不正常程度,老化或寿命。 | ||
地址 | 日本东京 |