发明名称 | 半导体器件及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供的半导体器件包括,有绝缘表面的基片、以及半导体膜,它包括绝缘表面上形成的结晶硅,半导体膜中含有促进结晶的金属,其浓度不大于1原子%。该半导体器件的制法包括:在基片的一绝缘表面上形成含非晶态硅的半导体膜;选择地形成含一种金属的层,它与半导体膜的第一部分接触;对它们进行加热,使半导体膜由第一部分至第二部分结晶,金属则通过半导体膜扩散。将半导体膜的至少第一和第二部分隔离开。 | ||
申请公布号 | CN1156917C | 申请公布日期 | 2004.07.07 |
申请号 | CN00100944.3 | 申请日期 | 1994.02.15 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 张宏勇;鱼地秀贵;高山彻;山崎舜平;竹村保彦 |
分类号 | H01L29/02;H01L29/786 | 主分类号 | H01L29/02 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨丽琴 |
主权项 | 1.一种半导体器件,它包括:一种有绝缘表面的基片;一种半导体膜,它包括形成于所述绝缘表面上的结晶硅,其中,所述半导体膜含有选自Ni、Pt、Fe、Co和Pd的促进硅结晶的金属,其浓度不大于1原子%。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |