发明名称 一种半导体激光器光电测试装置
摘要 一种多路半导体激光器光电测试装置,包括激光器驱动电路、开关电路、被测激光器及其探测器、数据采集电路,对各电路统一进行控制的计算机直接与激光器驱动电路、开关电路、数据采集电路联接。本实用新型通过计算机控制使某一路激光器点亮,同时探测到该激光器输出光功率、结电压、监测器电流等参数并采集到计算机储存起来。由此通过快速多点控制及多点数据采集得到激光器的特性曲线,从而准确得知激光器的多项特性参数,再与标准参数比较,即可自动分析、判别各激光器的性能优劣,使检测过程实现了大规模工业化检测。本实用新型自动分析判别每只激光器的性能好坏,可一次检测多个激光器,大大提高检测效率。
申请公布号 CN2624203Y 申请公布日期 2004.07.07
申请号 CN03247929.8 申请日期 2003.06.26
申请人 惠州市中科光电有限公司 发明人 唐宽平;孙睦光;李彦军;谢士金;何德毅;马军
分类号 G01M11/02;H01S3/0941 主分类号 G01M11/02
代理机构 广州粤高专利代理有限公司 代理人 罗晓林
主权项 1、一种半导体激光器光电测试装置,其特征是包括激光器驱动电路、与激光器驱动电路联接的开关电路、与开关电路联接的激光器、对激光器发出的光信号进行跟踪的探测器,激光器和探测器还同时将信号输入到数据采集电路,对各电路统一进行控制的计算机则直接与激光器驱动电路、开关电路、数据采集电路联接。
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