具有一测试机及一侦测机之半导体测试系统及其测试方法

摘要

本发明系揭露一种具有具有一测试机及一侦测机之半导体测试系统及其测试方法，利用此测试系统进行测试，才能保证测试结果之正确性。本发明在测试机的测试界面上加上测试头标记信号及分辨防护电路；当做多晶片(Multi-chip)测试时，经由比对电路比对测试头标记信号正确与否后，显示连接结果，再经防护电路决定可否能生产；当发生人为之疏失将连接界面连接错误时，警报器会鸣叫给予提醒，同时启动防护电路使测试机无法测试生产，唯有连接正确方可正常生产。因此，本发明能保证测试结果之正确性，避免因人为之疏失造成测试的结果为错误之结果，将不良的产品出货给客户。