发明名称 按键测试装置及方法
摘要 一种按键测试装置,用于电子设备键盘按键耐久性测试,包括:一测试机构、一主控装置及一安装板。其中测试机构包括汽动元件组、挟持机构及复位装置。主控装置与测试机构相连接并预设有按键测试参数,可控制汽动元件组对按键压按,所述安装板系设置于上述挟持机构上用以固持待测键盘。本发明还揭示一种所述按键测试装置之按键测试方法,包括以下步骤:(1)测试编辑键是否有效;(2)逐一测试键盘压按功能;(3)判断汽缸动作是否有效,并根据判断结果继续测试或转入警示流程;(4)记录测试数据。
申请公布号 TW200411375 申请公布日期 2004.07.01
申请号 TW091137945 申请日期 2002.12.31
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 张欣;徐文辉;黄登聪
分类号 G06F11/24;G06F3/02 主分类号 G06F11/24
代理机构 代理人
主权项
地址 台北县土城市自由街二号