| 发明名称 | 一种使用物体或颗粒自动分析的用于体相材料工业处理的控制反馈系统和方法 | ||
| 摘要 | 一种使用颗粒或物品自动分析的工业处理控制反馈系统和方法。该控制反馈系统和方法包括：用于获得体相材料样品测量特征的颗粒特征测量单元；用于与测量特征相比较的最佳特征定义(101)；用于响应测量特征与最佳特征定义相比较的结果来定义和选择待进行操作的修正操作数据库(103)；和用于响应所选择的待进行操作向多个处理单元传递控制命令的控制线路网。 | ||
| 申请公布号 | CN1509453A | 申请公布日期 | 2004.06.30 |
| 申请号 | CN02810168.5 | 申请日期 | 2002.05.08 |
| 申请人 | 超视颗粒测量有限公司 | 发明人 | K·J·利伯;I·B·布朗 |
| 分类号 | G06F19/00;G01D21/00 | 主分类号 | G06F19/00 |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 刘国平 |
| 主权项 | 1.一种处理控制系统，其包括：用于获得样品测量特征的颗粒特征测量单元；用于与测量特征相比较的最佳特征定义；用于响应测量特征与最佳特征定义相比较的结果来限定和选择待进行操作的修正操作数据库；和用于响应所选择的待进行操作向多个处理单元传递控制信号的控制线路网。 | ||
| 地址 | 美国加州 | ||