发明名称 |
具有垂直晶体管和对准掩埋条的栅导体的5F2单元的制作 |
摘要 |
制造集成电路器件的方法和结构:在衬底中制作存储器件,光刻制作栅窗口,在栅窗口中制作第一间隔,用第一间隔在衬底中制作条形窗口以对准条形窗口,在条形窗口中制作第二间隔,用第二间隔在衬底中制作隔离窗口,用绝缘材料填充隔离窗口,在栅窗口中形成台阶,形成第一扩散区,在衬底和台阶上制作栅绝缘层,制作栅导体,形成第二扩散区,制作与栅导体隔离的接触,栅导体中的电压形成邻近台阶的衬底中的导电区,与条形和接触电连接。 |
申请公布号 |
CN1155999C |
申请公布日期 |
2004.06.30 |
申请号 |
CN00118877.1 |
申请日期 |
2000.06.22 |
申请人 |
国际商业机器公司;英芬能技术北美公司 |
发明人 |
乌尔里克·格里宁;卡尔·J·拉登斯 |
分类号 |
H01L21/82;H01L27/04 |
主分类号 |
H01L21/82 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王永刚 |
主权项 |
1.一种制造集成电路芯片的方法,它包含:在衬底中制作至少具有一个台阶的窗口;在所述台阶下方的所述窗口中制作第一导体;在邻近所述第一导体和所述台阶下方的所述衬底中形成第一扩散区;在所述台阶上方制作栅导体;在邻近所述栅导体的所述衬底上方制作第二导体;以及在邻近所述第二导体的所述衬底中形成第二扩散区。 |
地址 |
美国纽约 |