发明名称 |
单片光电集成电路的调制掺杂闸流管和互补晶体管组合 |
摘要 |
用彼此反转的二个调制掺杂的晶体管结构组成的外延层结构,在单片衬底(149)上得到了闸流管以及高速晶体管和光电子器件族。借助于对赝高电子迁移率晶体管(PHEMT)结构进行平面掺杂而得到这种晶体管结构。对于一种晶体管,加入了与PHEMT的调制掺杂相反的被轻掺杂层分隔开的二个相同极性的平面掺杂层。此组合被不掺杂的材料分隔于PHEMT调制掺杂。电荷层薄而重掺杂。顶部电荷层(168)得到了低的栅接触电阻,且底部电荷层(153)确定了相对于PHEMT调制掺杂层的场效应晶体管(FET)电容。对于其它的晶体管,仅仅加入了一个额外的层。 |
申请公布号 |
CN1507660A |
申请公布日期 |
2004.06.23 |
申请号 |
CN02809313.5 |
申请日期 |
2002.03.04 |
申请人 |
康涅狄格州大学 |
发明人 |
G·W·泰勒 |
分类号 |
H01L29/06;H01L31/0328;H01L31/0336;H01L31/072;H01L21/338;H01L21/331 |
主分类号 |
H01L29/06 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴立明;梁永 |
主权项 |
1.一种半导体器件,它包含:生长在衬底上的一系列外延层,所述外延层包括N+掺杂层、被至少第一外延层分隔于所述N+掺杂层的形成p调制掺杂量子阱的第一多个层,形成n调制掺杂量子阱的第二多个层,所述第一多个层被至少第二外延层分隔于所述第二多个层,以及被至少第三外延层分隔于所述第二多个层的P+掺杂层。 |
地址 |
美国康涅狄格州 |