发明名称 离子布植系统
摘要 一种离子布植系统,包括有离子布植室、抑制环(suppressor ring)以及设置部。抑制环设置于离子布植室之前,用以抑制二次电子进入离子布植室。抑制环系包括有抑制环本体、连结件及绝缘件。抑制环本体具有开口及背向离子布植室之背面部,开口系用以使离子束可进入离子布植室;连结件系与背面部耦接;绝缘件则与连结件耦接。其中,抑制环系透过绝缘件与设置部耦接,使其可设置于离子布植室之前。五、(一)、本案代表图为:第 4 图(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明:140:离子布植室 260:设置部400:离子布植系统 450:抑制环452:抑制环本体 453:正面部454:柱螺栓 455:背面部456:绝缘件 470、472:端部480、482:螺丝孔
申请公布号 TW594861 申请公布日期 2004.06.21
申请号 TW092107203 申请日期 2003.03.28
申请人 台湾茂矽电子股份有限公司 发明人 洪胜峰;曾华仁;李俊杰;杨环隆
分类号 H01L21/265 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人 林素华 台北市南港区忠孝东路六段三十二巷三号五楼
主权项 1.一种离子布植系统,至少包括:一离子布植室;一抑制环(suppressor ring),设置于该离子布植室之前,用以抑制一二次电子进入该离子布植室,该抑制环包括:一抑制环本体,具有一开口及一背向该离子布植室之背面部,该开口用以使一离子束可进入该离子布植室;一连结件,与该背面部耦接;及一绝缘件,与该连结件耦接;以及一设置部,该抑制环系透过该绝缘件与该设置部耦接,使该抑制环可设置于该离子布植室之前。2.如申请专利范围第1项所述之离子布植系统,其中该连结件系一柱螺栓(stud-bolt)。3.如申请专利范围第2项所述之离子布植系统,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该背面部系具有一第一螺丝孔,该绝缘件系具有一第二螺丝孔,该柱螺栓系以该第一端部锁入该第一螺丝孔的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该第二螺丝孔被该第二端部锁入的方式与该柱螺栓耦接。4.如申请专利范围第2项所述之离子布植系统,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该背面部系具有一螺丝孔,该绝缘件系具有一套孔,该柱螺栓系以该第一端部锁入该螺丝孔的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该套孔将该第二端部套接于该绝缘件内的方式与该柱螺栓耦接。5.如申请专利范围第2项所述之离子布植系统,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该绝缘件系具有一螺丝孔,该柱螺栓系以该第一端部焊接于该背面部的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该螺丝孔被该第二端部锁入的方式与该柱螺栓耦接。6.如申请专利范围第2项所述之离子布植系统,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该绝缘件系具有一套孔,该柱螺栓系以该第一端部焊接于该背面部的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该套孔套接该第二端部的方式与该柱螺栓耦接。7.如申请专利范围第1项所述之离子布植系统,其中该绝缘件与该设置部系以螺接之方式耦接。8.如申请专利范围第1项所述之离子布植系统,其中该绝缘件与该设置部系以胶接之方式耦接。9.一种抑制环,适于使用在一离子布植系统中以抑制一二次电子进入一离子布植室,该抑制环系透过一设置部设置于该离子布植室之前,该抑制环至少包括:一抑制环本体,具有一开口及一背向该离子布植室之背面部,该开口用以使一离子束可进入该离子布植室;一连结件,与该背面部耦接;以及一绝缘件,与该连结件耦接,该抑制环系透过该绝缘件与该设置部耦接,使该抑制环可设置于该离子布植室之前。10.如申请专利范围第9项所述之抑制环,其中该连结件系一柱螺栓。11.如申请专利范围第10项所述之抑制环,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该背面部系具有一第一螺丝孔,该绝缘件系具有一第二螺丝孔,该柱螺栓系以该第一端部锁入该第一螺丝孔的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该第二螺丝孔被该第二端部锁入的方式与该柱螺栓耦接。12.如申请专利范围第10项所述之抑制环,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该背面部系具有一螺丝孔,该绝缘件系具有一套孔,该柱螺栓系以该第一端部锁入该螺丝孔的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该套孔套接该第二端部的方式与该柱螺栓耦接。13.如申请专利范围第10项所述之抑制环,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该绝缘件系具有一螺丝孔,该柱螺栓系以该第一端部焊接于该背面部的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该螺丝孔被该第二端部锁入的方式与该柱螺栓耦接。14.如申请专利范围第10项所述之抑制环,其中该柱螺栓系具有一第一端部及一第二端部,该绝缘件系具有一套孔,该柱螺栓系以该第一端部焊接于该背面部的方式与该背面部耦接,该绝缘件系以该套孔套接该第二端部的方式与该柱螺栓耦接。15.如申请专利范围第9项所述之抑制环,其中该绝缘件与该设置部系以螺接之方式耦接。16.如申请专利范围第9项所述之抑制环,其中该绝缘件与该设置部系以胶接之方式耦接。图式简单说明:第1图绘示乃离子布植方式之示意图。第2图绘示乃传统之离子布植系统之示意图。第3A图绘示乃传统之离子布植系统中抑制环本体之前视图。第3B图绘示乃传统抑制环之分解示意图。第4图绘示乃依照本发明之较佳实施例之离子布植系统之示意图。第5图绘示乃本发明之抑制环的分解示意图。
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