| 主权项 |
1.一种液晶槽厚度检测方法,系属于用以检测由两片基板互相贴合,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之液晶槽厚度的液晶槽厚度检测方法,其特征为:设定顺序通过第1偏光板、上述液晶层及第2偏光板的光路,令通过该光路的光予以分光,求取在上述光的分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或频率或是被赋予关连于该些之对应値的检测値,自该检测値藉由函数而算出上述液晶槽厚度。2.如申请专利范围第1项所记载之液晶槽厚度检测方法,其中,在上述光的分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或频率,系可视光区域内的波长或频率。3.如申请专利范围第1项或第2项所记载之液晶槽厚度检测方法,其中,将通过上述光路之光的光源,当作为至少在对应上述检测値的波长区域其有连续性之发光光谱者。4.一种液晶槽厚度控制系统,系属于用以控制由两片基板互相贴合,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之液晶槽厚度的液晶槽厚度控制系统,其特征为:具有加压手段,对上述液晶面板施加被控制的压力;检测光学系,拥有顺序通过第1偏光板、上述液晶层及第2偏光板之光路;分光手段,使由该检测光学系所导出的光予以分光;检测値导出手段,根据该分光手段的输出,求取在自上述检测光学系所得到的光之分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或将频率做为检测値的値;及控制手段,控制上述加压手段使上述检测値可接近对应于上述液晶槽厚度目标値之数値。5.如申请专利范围第4项所记载之液晶槽厚度控制系统,其中,在上述光的分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或频率,系可视光区域内的波长或频率。6.如申请专利范围第4项所记载之液晶槽厚度控制系统,其中,将通过上述光路之光的光源,当作为至少在对应上述检测値的波长区域具有连续性之发光光谱者。7.如申请专利范围第4项至第6项中之任一项所记载之液晶槽厚度控制系统,其中,上述控制手段系事先被设定,按照上述检测値或对应于上述检测値之液晶槽厚度的变化量和对上述液晶面板加压力之关系,控制上述加压手段。8.如申请专利范围第4项至第6项中之任一项所记载之液晶槽厚度控制系统,其中,上述加压手段系具有:至少一方为具有透光性,挟持上述液晶面板而相向的一对挟持构件;将一对的该挟持构件和上述液晶面板之间隙予以密封的密封手段;及以被控制于一对的上述挟持构件和上述液晶面板之间隙的压力而供给流体的流体供给手段。9.一种液晶装置之制造力法,系属于介由密封材料将两片基板互相贴合,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之制造方法,其特征为:具有设定顺序通过第1偏光板、上述液晶层及上述第2偏光板的光路,令通过该光路的光予以分光,求取在上述光的分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或将频率做为检测値的値,依照该检测値加压上述液晶面板,使上述检测値调整成与对应于上述液晶槽厚度之目标値的数値几乎一致。10.如申请专利范围第9项所记载之液晶装置之制造方法,其中,在上述分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或频率,为可视光区域内的波长或频率。11.如申请专利范围第9项或第10项所记载之液晶装置之制造方法,其中,将液晶注入上述液晶面板之后,按照上述检测値加压上述液晶面板,在使上述检测値调整成与对应于上述液晶槽厚度之目标値几乎一致的状态下,将上述液晶予以封口。12.一种液晶槽厚度检测方法,系属于用以检测由两片基板相向配置,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之液晶槽厚度的液晶槽厚度检测方法,其特征为:设定顺序通过第1偏光板、上述液晶层及第2偏光板的光路,令通过该光路的光予以分光,在上述光的分光光谱中,将取得极小値或极大値的波长或频率当作检测値而予以求取,自该检测値藉由函数而算出上述液晶槽厚度。13.一种液晶槽厚度检测方法,系属于用以检测由两片基板相向配置,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之液晶槽厚度的液晶槽厚度检测方法,其特征为:设定顺序通过第1偏光板、上述液晶层及第2偏光板的光路,令通过该光路的光予以分光,在上述光的分光光谱中,将得到极小値或极大値的波长或被赋予关连于频率的对应値当作检测値而予以求取,自该检测値藉由函数而算出上述液晶槽厚度。14.一种液晶槽厚度控制系统,系属于用以控制由两片基板互相贴合,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之液晶槽厚度的液晶槽厚度控制系统,其特征为:具有加压手段,对上述液晶面板施加被控制的压力;检测光学系,拥有顺序通过第1偏光板、上述液晶层及第2偏光板之光路;分光手段,使由该检测光学系所导出的光予以分光;检测値导出手段,根据该分光手段的输出,求取在自上述检测光学系所得到的光之分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或频率被赋予关连之对应値的检测値;及控制手段,控制上述加压手段使上述检测値可接近对应于上述液晶槽厚度目标値之数値。15.一种液晶装置之制造方法,系属于介由密封材料将两片基板互相贴合,于该基板间配置液晶层而所构成之液晶面板之制造方法,其特征为:具有设定顺序通过第1偏光板、上述液晶层及上述第2偏光板的光路,令通过该光路的光予以分光,求取在上述光的分光光谱中为取得极小値或极大値的波长或频率被赋予关连于对应値的检测値,依照该检测値加压上述液晶面板,使上述检测値调整成与对应于上述液晶槽厚度之目标値的数値几乎一致。图式简单说明:第1图系表示与本发明有关之实施形态之液晶槽厚度系统全体构成的概略构成图。第2图系表示同实施形态中之动作程式顺序的概略流程图。第3图系表示以同实施形态中之分光单元而所得到的分光光谱之曲线图。第4图系将以同实施形态中之分光单元而所得到的分光光谱,针对无彩色滤光片的黑白面板(A),具有彩色滤光片的彩色面板(B)及具有另外的彩色滤光片的彩色面板之情况而表示的曲线图。第5图系表示可以取代同实施形态中之加压机具及分光装置而使用的构成反射型检测系统的加压机具220及分光装置240之概略构造。第6图(a)为表示同实施形态之函数F具体例中所使用的液晶面板之抛光方向的说明图,(b)为表示配置于同液晶面板之前后的偏光板透过轴之方向的说明图,(c)为表示上述函数F之具体例中之波长波长b和液晶槽厚度d之关系的曲线图。 |
