发明名称 反射型光电装置及电子机器
摘要 本发明之课题是在于提供一种使凹凸形成层的下层侧状态形成均一化,而利用光蚀刻微影技术来形成凹凸形成层时,凹凸形状不会产生不均一之反射型光电装置及电子机器。其解决手段是在反射型光电装置的TFT阵列基板(10)中,供以对反射膜(8a)赋予凹凸图案(8g)的凹凸形成层(13a)是藉由对感光性树脂(13)进行半曝光,显像,及加热来形成。在此,由于在凹凸形成层(13a)的下层侧,同藉由高低差消除膜(3f)来消除高低差及段差,因此能够良好地对感光性树脂(13)进行曝光。并且,因为高低差会被消除,所以感光性树脂(13)的厚度偏差情况小,因此凹凸形状的偏差情况亦小。
申请公布号 TW594160 申请公布日期 2004.06.21
申请号 TW092101371 申请日期 2003.01.22
申请人 精工爱普生股份有限公司 发明人 二村彻
分类号 G02F1/133;G09F9/35 主分类号 G02F1/133
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种反射型光电装置,是属于一种在挟持光电物 质的基板上,至少在各画素中形成有电性连接于一 条或复数条配线的画素开关用主动元件,及光反射 膜,且在该光反射膜的下层侧与该光反射膜平面重 叠的领域中形成有赋予上述光反射膜的表面预定 的凹凸图案的凹凸形成层之反射型光电装置; 其特征为: 在上述凹凸形成层的下层侧与该凹凸形成层平面 重叠的领域中形成有供以消除高低差的高低差消 除膜,该高低差是根据有无形成上述主动元件的导 电膜而形成; 该高低差消除膜是由构成上述配线的导电膜,构成 上述主动元件的导电膜,及绝缘膜的其中一层所形 成。2.如申请专利范围第1项之反射型光电装置,其 中上述高低差消除膜是同时形成于与构成上述配 线的导电膜或构成上述主动元件的导电膜同一层 。3.如申请专利范围第1项之反射型光电装置,其中 上述高低差消除膜是针对形成上述主动元件的导 电膜的形成层数少的领域来选择性形成,藉此来消 除上述高低差。4.如申请专利范围第1项之反射型 光电装置,其中上述主动元件是连接于作为上述配 线的扫描线及资料线之薄膜电晶体; 上述高低差消除膜是包含同时形成于与上述扫描 线同一层的导电膜,及同时形成于与上述资料线同 一层的导电膜的其中至少一方。5.如申请专利范 围第1项之反射型光电装置,其中上述主动元件是 连接于作为上述配线的扫描线及资料线之薄膜电 晶体,且在上述画素中形成有供以构成储存电容的 电容线; 上述高低差消除膜是包含同时形成于与上述扫描 线同一层的导电膜,及同时形成于与上述电容线同 一层的导电膜,以及同时形成于与上述资料线同一 层的导电膜的其中至少一层。6.如申请专利范围 第2项之反射型光电装置,其中上述高低差消除膜 是由上述配线,或构成上述主动元件的导电膜分离 而形成岛状。7.如申请专利范围第2项之反射型光 电装置,其中上述高低差消除膜是由上述配线,或 构成上述主动元件的导电膜而延设。8.如申请专 利范围第1项之反射型光电装置,其中上述凹凸形 成层是由表面具备对应于平稳膜厚变化的凹凸之 感光性树脂所构成; 在上述光反射膜的表面上,反映形成于上述凹凸形 成层的表面的凹凸而形成有上述凹凸图案。9.如 申请专利范围第8项之反射型光电装置,其中上述 凹凸形成层是藉由隔着对感光性树脂之曝光光罩 的半曝光,及显示而形成。10.如申请专利范围第1 项之反射型光电装置,其中上述凹凸形成层是由选 择性形成预定图案的感光性树脂所构成; 在上述光反射膜的表面,对应于上述凹凸形成层的 有无而形成有上述凹凸图案。11.如申请专利范围 第10项之反射型光电装置,其中上述凹凸形成层是 藉由隔着对感光性树脂之曝光光罩的曝光,及显示 而形成。12.如申请专利范围第10项之反射型光电 装置,其中在上述凹凸形成层的上层形成有上层绝 缘膜,在上述光反射膜的表面上,构成上述凹凸形 成层的凹凸会隔着该上层绝缘膜而反映形成有上 述凹凸图案。13.如申请专利范围第1项之反射型光 电装置,其中上述凹凸形成层是形成于上述画素的 约全域。14.如申请专利范围第1项之反射型光电装 置,其中在上述光反射膜形成有光透过窗。15.如申 请专利范围第1项之反射型光电装置,其中在上述 光反射膜形成有光透过窗,且避开与该光透过窗平 面重叠的领域而形成有上述高低差消除膜。16.一 种反射型光电装置,是属于一种在挟持光电物质的 基板上,至少在各画素中形成有电性连接于一条或 复数条配线的画素开关用主动元件,及光反射膜, 且在该光反射膜的下层侧与该光反射膜平面重叠 的领域中形成有赋予上述光反射膜的表面预定的 凹凸图案的凹凸形成层之反射型光电装置; 其特征为: 在上述凹凸形成层的下层侧与该凹凸形成层平面 重叠的领域中,形成有与其他领域电性绝缘的岛状 图案,该岛状图案是由构成上述配线的导电膜,及 构成上述主动元件的导电膜的其中至少一层所形 成。17.如申请专利范围第16项之反射型光电装置, 其中上述凹凸形成层是由表面具备对应于平稳膜 厚变化的凹凸之感光性树脂所构成; 在上述光反射膜的表面上,反映形成于上述凹凸形 成层的表面的凹凸而形成有上述凹凸图案。18.如 申请专利范围第17项之反射型光电装置,其中上述 凹凸形成层是藉由隔着对感光性树脂之曝光光罩 的半曝光,及显示而形成。19.如申请专利范围第16 项之反射型光电装置,其中上述凹凸形成层是由选 择性形成预定图案的感光性树脂所构成; 在上述光反射膜的表面,对应于上述凹凸形成层的 有无而形成有上述凹凸图案。20.如申请专利范围 第19项之反射型光电装置,其中上述凹凸形成层是 藉由隔着对感光性树脂之曝光光罩的曝光,及显示 而形成。21.如申请专利范围第19项之反射型光电 装置,其中在上述凹凸形成层的上层形成有上层绝 缘膜,在上述光反射膜的表面上,构成上述凹凸形 成层的凹凸会隔着该上层绝缘膜而反映形成有上 述凹凸图案。22.如申请专利范围第16项之反射型 光电装置,其中上述凹凸形成层是形成于上述画素 的约全域。23.如申请专利范围第16项之反射型光 电装置,其中在上述光反射膜形成有光透过窗。24. 如申请专利范围第16项之反射型光电装置,其中在 上述光反射膜形成有光透过窗,且避开与该光透过 窗平面重叠的领域而形成有上述岛状图案。25.如 申请专利范围第1~24项的其中任一项所记载之反射 型光电装置,其中上述光电物质为液晶。26.一种电 子机器,其特征是使用申请专利范围第1~24项的其 中任一项所规定的反射型光电装置来作为显示装 置。27.如申请专利范围第26项之电子机器,其中上 述光电物质为液晶。图式简单说明: 第1图是表示由对向基板侧所见本发明之光电装置 的平面图。 第2图是表示第1图的H-H'线剖面图。 第3图是表示在光电装置中,形成于配置成矩阵状 的复数个画素的各种元件及配线等之等效电路图 。 第4图是表示本发明之实施形态1的TFT阵列基板的 画素构成平面图。 第5图是表示从第4图所示的TFT阵列基板的画素群 中仅显示出配线及构成TFT的导电膜之平面图。 第6图是表示相当于第4图的A-A'线的位置之光电装 置的剖面图。 第7(A)~(C)图是表示第5图所示之TFT阵列基板的制造 方法的过程剖面图。 第8(D)~(G)图是表示第5图所示之TFT阵列基板的制造 方法的过程剖面图。 第9(H)~(J)图是表示第5图所示之TFT阵列基板的制造 方法的过程剖面图。 第10(K),(L)图是表示第5图所示之TFT阵列基板的制造 方法的过程剖面图。 第11图是表示本发明之实施形态2的TFT阵列基板的 画素构成平面图。 第12图是表示相当于第11图的B-B'线的位置之光电 装置的剖面图。 第13图是表示本发明之实施形态3的TFT阵列基板的 画素构成平面图。 第14图是表示相当于第13图的C-C'线的位置之光电 装置的剖面图。 第15图是表示本发明之实施形态4的TFT阵列基板的 画素构成平面图。 第16图是表示相当于第15图的D-D'线的位置之光电 装置的剖面图。 第17图是表示本发明之实施形态5的TFT阵列基板的 画素构成平面图。 第18图是表示相当于第17图的E-E'线的位置之光电 装置的剖面图。 第19(A),(B)图皆是表示本发明之实施形态6的光电装 置的剖面图。 第20图是表示本发明之实施形态7的光电装置的剖 面图。 第21图是表示本发明之实施形态8的光电装置的剖 面图。 第22图是表示使用本发明之光电装置来作为显示 装置之电子机器的电路构成方块图。 第23图是表示使用本发明之光电装置的电子机器 之一实施形态的携带型个人电脑的说明图。 第24图是表示使用本发明之光电装置的电子机器 之一实施形态的行动电话的说明图。 第25图是表示以往的TFT阵列基板的画素构成平面 图。 第26图是表示相当于第25图的G-G'线的位置之光电 装置的剖面图。 第27图是表示对供以在以往的TFT阵列基板中形成 凹凸形成层的感光性树脂进行曝光过程的说明图 。
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