| 主权项 |
1.一种利用光学侦测待测物的方法,该利用光学侦 测物的方法包含: 产生多数个编码信号; 依序分别传送该多数个编码信号至相对应的多数 个光源; 以该编码信号来调变该相对应的多数个光源; 该多数个光源依序分别发射出经调变的调变光线 至一待测物; 依序接收经由反射的该调变光线,经解调变以得知 其内含编码信息;及 依据反射的该调变光线所内含之解调变信息、接 收时的时间,以分辨该待测物的大小、距离、高低 或运动方式。2.如申请专利范围第1项之利用光学 侦测待测物的方法,其中上述多数个编码信号以二 进位方式编码。3.如申请专利范围第1项之利用光 学侦测待测物的方法,其中上述多数个光源以不同 角度排列于一光发射源平面阵列中。4.如申请专 利范围第3项之利用光学侦测待测物的方法,更包 含多数个聚焦透镜位于多数个光源前方用以分别 聚集该多数个光源所发射之该调变光线。5.如申 请专利范围第1项之利用光学侦测待测物的方法, 其中上述接收经由反射的该调变光线为一光感测 器,其中该光感测器与该多数个光源具有相同的波 长。6.如申请专利范围第5项之利用光学侦测待测 物的方法,更包含至少一个滤波器位于该光感测器 的前方,其中该滤波器与该光感测器及该多数个光 源具有相同的波长。7.一种利用光学侦测物的方 法,该利用光学侦测物的方法包含: 产生多数个编码信号,其中该多数个编码信号以二 进位方式编码; 依序分别传送该多数个编码信号至相对应的多数 个光源; 发射该相对应多数个的光源所产生的多数个调变 光线; 依序接收经由反射的该多数个调变光线,经解调变 得知内含编码信息;及 依据该反射的该多数个调变光线之解调变信息、 接收时的时间,以分辨该待测物的大小、远近、高 低或运动方向。8.如申请专利范围第7项之利用光 学侦测待测物的方法,其中上述多数个光源以不同 角度排列于一光发射源平面阵列。9.如申请专利 范围第7项之利用光学侦测待测物的方法,其中距 离该光发射源平面阵列较近之该待测物在一第一 反射时间反射一第一反射调变光线及经解调变得 知内含编码信息。10.如申请专利范围第7项之利用 光学侦测待测物的方法,其中离该光发射源平面阵 列较远之该待测物在一第二反射时间反射一第二 反射调变光线,其中该第二反射时间较该第一反射 时间长。11.如申请专利范围第7项之利用光学侦测 待测物的方法,其中高度较低的该待测物在一第一 反射时间反射一第一反射调变光线。12.如申请专 利范围第7项之利用光学侦测物的方法,其中高度 较高的该待测物在一第二反射时间反射一第二反 射调变光线。13.如申请专利范围第7项之利用光学 侦测待测物的方法包含: 该至少一个待测物在一第一反射时间反射一第一 反射调变光线; 该至少一个待测物在一第二反射时间反射一第二 反射调变光线;以及 根据该第二反射调变光线以及经解调变得知内含 编码信息以判断该至少一个待测物在该第二反射 时间所移动的方向。14.如申请专利范围第7项之利 用光学侦测待测物的方法包含: 该至少一个待测物在一第一反射时间反射一第一 反射调变光线; 该至少一个待测物在一第二反射时间反射一第二 反射调变光线,其中该至少一个待测物在该第一反 射时间与在该第二反射时间之间有一移动距离;以 及 计算该第二反射时间与该第一反射时间以及该移 动距离以得到该至少一个待测物的运动速率。15. 一种利用光学侦测待测物的装置,该利用光学侦测 待测物的装置包含: 一数位电路,该数位电路依序产生多数个编码信号 ; 一多工器,该多工器在依序传送该多数个编码信号 至相对应之多数个光源; 该多数个光源以发射出经调变的多数个光线以侦 测该待测物; 多数个聚焦透镜,该多数个聚焦透镜分别位于该多 数个光源的前方; 至少一个光感测器,该至少一个光感测器位于多数 个光源之间用以接收经反射的一反射调变光线,经 解调变以得知其内含编码信息; 至少一个滤波器,该至少一个滤波器位于该至少一 个光感测器前方用以过滤其他波长光源;以及 一处理装置,该处理装置用以处理由该至少一个光 感测器依序所接收到之该多数个反射调变光线以 及经由解调变之其内含编码信息以分辨该待测物 的大小、距离、高低或运动方式。16.如申请专利 范围第15项之利用光学侦测待测物的装置,其中上 述多数个编号信号以二进位方式编码。17.如申请 专利范围第15项之利用光学侦测待测物的装置,其 中上述多数个光源以不同角度排列于一光发射源 平面阵列上。18.如申请专利范围第15项之利用光 学侦测待测物的装置,其中上述多数个聚焦透镜与 该多数个光源具有相同的波长。19.如申请专利范 围第15项之利用光学侦测待测物的装置,其中上述 至少一个光感测器与该多数个光源具有相同的波 长。20.如申请专利范围第15项之利用光学侦测待 测物的装置,其中上述滤波器与该光感测器具有相 同的波长。图式简单说明: 第一图系根据本发明所揭露之技术,利用光学侦测 待测物之流程图; 第二图系根据本发明所揭露之技术,光源与聚焦透 镜之相对位置关系之简单示意图; 第三图系根据本发明所揭露之技术,光感测器与滤 波器以及与光源之相对位置关系之简单示意图; 第四A图系根据本发明所揭露之技术,光发射源平 面阵列摆放位置与光感测器之相对位置之简单示 意图; 第四B图至第四E图系根据本发明所揭露之技术,光 发射源平面阵列不同摆放方式及角度与接收反射 调变光线及内含的信号编码之光感测器之位置之 简单示意图; 第五A图系根据本发明所揭露之技术,产生信号编 码、发射调变光线之光源以及接收反射调变光线 与内含的信号编码之光感测器之相对位置之简单 示意图; 第五B图系根据本发明所揭露之技术,光发射源平 面阵列、聚焦透镜、光感测器以及滤波器位于上 、下固定板之简单示意图; 第六A图系根据本发明所揭露之技术,利用光学侦 测是否有待测物存在以及待测物大小之简单示意 图; 第六B图系根据本发明所揭露之技术,利用光学侦 测待测物距离之简单示意图; 第六C图系根据本发明所揭露之技术,利用光学侦 测待测物高低之简单示意图; 第六D图系根据本发明所揭露之技术,利用光学侦 测待测物运动方向之简单示意图;以及 第六E图系根据本发明所揭露之技术,利用光学侦 测待测物运动速率之简单示意图。 |
