| 发明名称 |
PLAQUETTE DE TEST POUR LE CONTROLE DE DISPOSITIFS MICROELECTRONIQUES ET APPAREIL DE CONTROLE UTILISANT CETTE PLAQUETTE DE TEST |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2839556(B1) |
申请公布日期 |
2004.06.18 |
| 申请号 |
FR20020005717 |
申请日期 |
2002.05.07 |
| 申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE |
发明人 |
TOFFOLI ALAIN;PARAT GUY |
| 分类号 |
G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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