| 发明名称 |
X-RAY PHASE CONTRAST IMAGING USING A FABRY-PEROT INTERFEROMETER CONCEPT |
| 摘要 |
An analyzer that includes a first multilayer structure (350), a spacer material (354) deposited on the first multilayer structure and a second multilayer structure (356) deposited on the spacer material. |
| 申请公布号 |
WO02071028(A3) |
申请公布日期 |
2004.06.17 |
| 申请号 |
WO2002US06723 |
申请日期 |
2002.03.01 |
| 申请人 |
OSMIC, INC. |
发明人 |
MARTYNOV, VLADIMIR, V.;PLATONOV, YURIY |
| 分类号 |
G21K1/06 |
主分类号 |
G21K1/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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