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发明名称
量测硬体对通用数据库之适应
摘要
为了产生用于半导体结构光学量测中的系数组,得到对一组参数之至少三个光学量测讯号。光学量测讯号为自半导体结构绕射的指示光线,并将参数组之至少一个参数值改变以产生各讯号。得到至少三个光学量测讯号之间的函数关系,函数关系包括至少三个系数值。由函数关系的至少三个系数值决定至少三组系数。
申请公布号
TW200409913
申请公布日期
2004.06.16
申请号
TW092121405
申请日期
2003.08.05
申请人
迪伯技术股份有限公司
发明人
艾曼纽道奇;鲍君威;斯里尼凡斯多迪;王威
分类号
G01N23/20
主分类号
G01N23/20
代理机构
代理人
周良谋
主权项
地址
美国
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