发明名称 量测硬体对通用数据库之适应
摘要 为了产生用于半导体结构光学量测中的系数组,得到对一组参数之至少三个光学量测讯号。光学量测讯号为自半导体结构绕射的指示光线,并将参数组之至少一个参数值改变以产生各讯号。得到至少三个光学量测讯号之间的函数关系,函数关系包括至少三个系数值。由函数关系的至少三个系数值决定至少三组系数。
申请公布号 TW200409913 申请公布日期 2004.06.16
申请号 TW092121405 申请日期 2003.08.05
申请人 迪伯技术股份有限公司 发明人 艾曼纽道奇;鲍君威;斯里尼凡斯多迪;王威
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人 周良谋
主权项
地址 美国