具测试埋入式DRAM电路之BIST电路之模组测试控制器MODULAR TEST CONTROLLER WITH BIST CIRCUITS FOR TESTING EMBEDDED DRAM CIRCUITS

摘要

具测试埋入式DRAM(eDRAM)电路之BIST(内建自我测试)电路之模组测试控制器系被提供。该测试控制器包含用于执行测试之BIST核心，该BIST核心包含被证实测试演算法；用于接合该BIST核心及外部测试器之可选测试器介面；及用于接合该BIST核心及埋入式DRAM之可选埋入式DRAM介面，该埋入式DRAM包含复数个可储存资料之记忆体胞元。本发明使半导体装置设计者得以保持一测试流程及再使用多重ASIC(特定应用积体电路)产品／世代之被证实BIST核心。