对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置

摘要

本发明是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置，它涉及利用X射线衍射、X射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的方法及装置。X射线源1、X射线透镜3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均置于仪器平台13上，X射线源与X射线透镜形成入射光路，能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台上，平移样品台使被测样品6位于该焦点，然后用能量探测器接收从被测样品上衍射的X射线和发射的荧光X射线，再传输到计算机12中进行数据处理，得到衍射谱和荧光光谱，从而分析出结构和成分。本发明操作简单，测量速度较快，能够适用于各种组合样品。

主权项

1、一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法，其特征为：将X射线源(1)发出的发散白光X射线通过X射线透镜(3)聚焦成准平行的白光X射线微会聚束，焦点处于样品台(7)上，平移样品台使被测样品位于该焦点，然后用能量探测器(9)接收从被测样品上衍射的X射线和被测样品发射的荧光X射线，再传输到计算机(12)中进行数据处理，得到衍射谱和荧光光谱，从而得到组合样品的结构和成分信息。