发明名称 氧化物薄膜、强电介体薄膜的制造方法、强电介体元件
摘要 本发明提供一种氧化物薄膜、强电介体薄膜的制造方法、强电介体薄膜、强电介体存储元件、强电介体压电元件。本发明使用超临界流体形成强电介体膜。超临界流体例如是包含强电介体的构成元素的临界压力以上且在4倍临界压力以下的流体。
申请公布号 CN1505117A 申请公布日期 2004.06.16
申请号 CN200310119519.3 申请日期 2003.12.01
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 木岛健;名取荣治
分类号 H01L21/316 主分类号 H01L21/316
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1.一种氧化物薄膜的制造方法,其特征在于:采用超临界流体作为介质。
地址 日本东京
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