发明名称 | 非易失性存储单元及非易失性半导体存储装置 | ||
摘要 | 本发明的目的在于,不会伴随存储单元阵列整体面积的增加,即可降低存储单元的选择晶体管的通态电阻,达成存储单元的存储数据的读出操作的高速化及稳定操作。为此,具备多个根据电阻变化可以存储信息的可变电阻元件(2);连接各可变电阻元件(2)的一端之间,由共同选择多个可变电阻元件(2)的MOSFET或二极管元件构成的选择元件(3)的一个电极与各可变电阻元件(2)的上述一端连接,构成存储单元(1)。 | ||
申请公布号 | CN1505043A | 申请公布日期 | 2004.06.16 |
申请号 | CN200310120110.3 | 申请日期 | 2003.12.05 |
申请人 | 夏普株式会社 | 发明人 | 森川佳直 |
分类号 | G11C11/15;G11C16/06 | 主分类号 | G11C11/15 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汪惠民 |
主权项 | 1.一种非易失性存储单元,其特征在于,具备:多个根据电阻变化可以存储信息的可变电阻元件;及共同选择所述多个可变电阻元件的选择元件,所述各可变电阻元件的一端之间互相连接,所述选择元件的一个电极与所述各可变电阻元件的所述一端连接。 | ||
地址 | 日本大阪府 |