发明名称 |
Ⅲ族氮化物单/多层异质应变薄膜的制作方法 |
摘要 |
一种III族氮化物单/多层异一种质应变薄膜的制作方法,包括如下制备步骤:(1)用一衬底,使在该衬底上外延的III族氮化物晶体生长平面能够和(0001)晶面垂直;(2)在衬底材料上外延预定厚度的III族氮化物作为下一步外延生长模板;(3)在模板上外延生长预定结构的III族氮化物单/多层异质应变薄膜,在垂直该外延薄膜平面的方向上没有压电场。 |
申请公布号 |
CN1154155C |
申请公布日期 |
2004.06.16 |
申请号 |
CN01100454.1 |
申请日期 |
2001.01.12 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
陈振;陆大成;刘祥林;王晓晖;袁海荣;王占国 |
分类号 |
H01L21/20;H01L33/00;H01S5/00 |
主分类号 |
H01L21/20 |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
1.一种III族氮化物单/多层异质应变薄膜的制作方法,其特征在于,该方法包括如下制备步骤:(1)用一衬底,使在该衬底上外延的III族氮化物晶体生长平面能够和(0001)晶面垂直;(2)在衬底材料上外延预定厚度的III族氮化物作为下一步外延生长模板;(3)在模板上外延生长预定结构的III族氮化物单/多层异质应变薄膜,在垂直该外延薄膜平面的方向上没有压电场。 |
地址 |
100083北京市912信箱 |