| 发明名称 |
Method and apparatus for on-wafer testing of an individual optical chip |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2003297274(A8) |
申请公布日期 |
2004.06.15 |
| 申请号 |
AU20030297274 |
申请日期 |
2003.11.14 |
| 申请人 |
LNL TECHNOLOGIES, INC. |
发明人 |
BOUMY SAYAVONG;KEVIN KIDOO LEE;DESMOND RODNEY LIM;CHRISTIAN HOEPFNER;WANG-YUHL OH |
| 分类号 |
G01M11/00;G02B6/28;G02B6/30;G02B6/42;(IPC1-7):G02B6/20 |
主分类号 |
G01M11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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