| 主权项 |
1.一种半导体元件测试时间之自动计算方法,其系在一电脑系统中执行,该自动计算方法包含有下列步骤:(a)提供一批次之复数个半导体元件;(b)装载该批次之至少一半导体元件于一测试机之测试治具上;(c)该电脑系统记录该半导体元件之开始测试时间;(d)当该半导体元件为该批次中第一个待测之半导体元件,该电脑系统纪录该半导体元件之名称与测试程式名称;(e)测试该半导体元件;(f)该电脑系统记录该半导体元件之完成测试时间;(g)计算该半导体元件测试时间,该电脑系统将该半导体元件之完成测试时间减去开始测试时间得到该半导体元件之测试时间,并将该半导体元件之测试时间记录于该电脑系统;及重复上述(b)到(g)步骤,直到测试完成该批次中之预定数量之该些半导体元件。2.如申请专利范围第1项所述之半导体元件测试时间之自动计算方法,于测试完成该批次中之预定数量之该些半导体元件之后,更包含有下列步骤:排除超过固定倍数标准差[standard deviation]范围之半导体元件测试时间;及计算固定倍数标准差范围内之该些测试时间之算术平均数[mean]。3.如申请专利范围第2项所述之半导体元件测试时间之自动计算方法,其中标准差之固定倍数系为3倍。4.如申请专利范围第1项所述之半导体元件测试时间之自动计算方法,其中该批次中所测试完成之半导体元件之预定数量系等于该批次中之半导体元件之全部数量。5.一种半导体元件测试时间之自动计算方法,其系在一电脑系统中执行,该自动计算方法包含有下列步骤:提供一批次之至少一半导体元件;该电脑系统记录该半导体元件被作动之开始时间;该电脑系统记录该半导体元件被作动之完成时间;计算该半导体元件之被作动时间,该电脑系统将该半导体元件被作动之完成时间减去被作动之开始时间得到该半导体元件之被作动时间,并将该半导体元件之被作动时间记录于该电脑系统;及重复上述之步骤,直到作动完成该批次中之预定数量之该些半导体元件。6.如申请专利范围第1项所述之半导体元件测试时间之自动计算方法,于作动完成该批次中之预定数量之该些半导体元件之后,更包含有下列步骤:排除超过固定倍数标准差[standard deviation]范围之半导体元件之被作动时间;及计算固定倍数标准差范围内之该些被作动时间之算术平均数[mean]。7.如申请专利范围第6项所述之半导体元件测试时间之自动计算方法,其中标准差之固定倍数系为3倍。8.如申请专利范围第5项所述之半导体元件测试时间之自动计算方法,其中该批次中所作动完成之半导体元件之预定数量系等于该批次中之半导体元件之全部数量。图式简单说明:第1图:依据本发明之第一具体实施例,一种半导体元件测试时间之自动计算方法之流程示意图;及第2A~2C图:依据本发明之第二具体实施例,一种半导体元件测试时间之自动计算方法之流程示意图。 |
