| 主权项 |
1.一种光源测试系统,其包含有:一光源,用来发射一光线;一影像撷取装置,用来依据该光线以撷取一影像,该影像具有复数个像素;以及一影像处理装置,用来依据该影像,计算出对应该复数个像素之复数个灰阶値,并依据该复数个灰阶値计算该光源之特性参数。2.如申请专利范围第1项所述之光源测试系统,其另包含有一成像装置,设置于该光源与该影像撷取装置之间,用来使该光线投射于其上,且该影像撷取装置系依据投射于该成像装置之光线撷取该影像。3.如申请专利范围第2项所述之光源测试系统,其中,该成像装置包含一屏幕(screen),该光源之光线系投射于该屏幕上,且该影像撷取装置系侦测穿透该屏幕之光线来撷取该影像。4.如申请专利范围第3项所述之光源测试系统,其中,该成像装置另包含一成像镜头,设置于该光源与该屏幕之间,用来使该光源之光线聚焦于该屏幕上。5.如申请专利范围第1项所述之光源测试系统,其另包含一夹具(clamping device),用以夹持该光源。6.如申请专利范围第5项所述之光源测试系统,其中,该夹具上设置一开孔,该光源之光线系由该开孔发散出去,该成像装置上之该影像之形状由该开孔之形状来决定。7.如申请专利范围第1项所述之光源测试系统,其更包含一遮光板,置于该成像装置前方,用以遮去不必要之环境背景光。8.如申请专利范围第1项所述之光源测试系统,其中该影像撷取装置系为一CCD感测装置或一CMOS感测装置。9.如申请专利范围第1项所述之光源测试系统,其中该光源系为一灯泡(lamp),其包含有一灯芯(burner)与一反射罩(reflector),该反射罩用来反射该灯芯所发出之光线。10.如申请专利范围第1项所述之光源测试系统,其中,该影像撷取装置另包含一滤镜,用来衰减入射至该影像撷取装置之光线之强度。11.一种测试光源之方法,其包含有下列步骤:(a)提供一光源以发射一光线;(b)使用一影像撷取装置依据该光线以撷取一影像,该影像具有复数个像素;以及(c)使用一影像处理装置处理该影像,依据该影像计算出该复数个像素之复数个灰阶値,并依据该复数个灰阶値计算该光源之特性参数。12.如申请专利范围第11项所述之方法,其中步骤(b)另包含一步骤(b')系设置一成像装置来使该光线投射于其上,该成像装置位于该光源与该影像撷取装置之间,且该影像撷取装置系依据投射于该成像装置之光线来撷取该影像。13.如申请专利范围第11项所述之方法,其中,该影像具有一影像中心b与一影像边缘,且该影像中心至该影像边缘具有一距离D1,该步骤(c)包含:(d1)挑选一第一预定灰阶値G1,并依照下列方式定义一第一光源测试区域与一光源中心c:该第一光源测试区域为该影像之复数个像素中,灰阶値大于该第一预定灰阶値G1的所有像素所形成之区域;该光源中心c为该第一光源测试区域之一中心位置;以及(d2)定义该光源中心c与该影像中心b之距离为D2,以计算一中心位置偏移量D2/D1,并使用该中心位置偏移量侦测该光源之均匀度。14.如申请专利范围第11项所述之方法,其中步骤(c)包含:(e1)挑选一第二预定灰阶値G2,并计算一第二光源测试区域之一面积Q2,该第二光源测试区域系定义为该影像中,灰阶値大于该第二预定灰阶値G2的所有像素所形成之区域;(e2)计算该影像之复数个像素之一最大灰阶値GX1,并计算该第二预定灰阶値G2与该最大灰阶値GX1之一灰阶差h(h=GX1-G2);以及(e3)使用该灰阶差h与该面积Q2之一乘积V(V=h*Q2)侦测该之光源之亮度。15.如申请专利范围第11项所述之方法,其中步骤(c)包含:(f1)挑选一第三预定灰阶値G3,并定义一第三光源测试区域之一面积Q3,该第三光源测试区域系定义为该影像中,灰阶値大于该第三预定灰阶値G3的所有像素所形成之区域;(f2)计算可包围该第三光源测试区域之复数个矩形,每一矩形之四边均与该第三光源测试区域相交;(f3)于该复数个矩形中选取二特定矩形,该特定矩形具有一最小面积,并定义该矩形之短边为X,且该矩形之长边为Y;以及(f4)以下列方程式定义一边长比R1.一面积比R2.以及一与光源形状相关之S値,来侦测该光源之均匀度:R1=X/Y;R2=(Q3/(X*Y));S=R1*R2。16.如申请专利范围第11项所述之方法,其中步骤(c)包含:(g1)依据该复数个像素之复数个灰阶値计算一平均灰阶値I;以及(g2)使用该平均灰阶値1侦测该光源之亮度。17.如申请专利范围第11所述之方法,其中,该影像具有一影像中心与一影像边缘,且该影像中心至该影像边缘具有一距离D1,该步骤(c)包含:(h1)挑选一预定灰阶値中并依照下列方式定义一最大亮度区域与一光源中心:该最大亮度区域为该影像之复数个像素中,灰阶値大于该预定灰阶値G的所有像素所形成之区域;该光源中心为该最大亮度区域之一中心位置;(h2)定义该光源中心c与该影像中心b之距离为D2,以计算一中心位置偏移量D2/D1:(h3)计算该最大亮度区域之一面积Q';(h4)计算该影像之复数个像素之一最大灰阶値GX,并计算该预定灰阶値G与该最大灰阶値GX之一灰阶差h'(h'=GX-G);(h5)依该灰阶差h'与该面积A'计算一乘积V'(V'=h'*Q');(h6)计算可包围该最大亮度区域之复数个矩形,每一矩形之四边均与该最大亮度区域相交;(h7)于该复数个矩形中选取一特定矩形,该特定矩形具有一最小面积,并定义该矩形之短边为X,且该矩形之长边为Y;(h8)以下列方程式定义一边长比R1.一面积比R2.以及一与光源形状相关之S値: R1=X/Y;R2=(Q'/(X*Y));S=R1*R2;(h9)依据该复数个像素之复数个灰阶値计算一平均灰阶値I;(h10)利用下列方程式,计算一P値,并根据该P値,来评估该光源之均匀度与亮度:P=(1-D2/D1)*V'*S*I。18.如申请专利范围第17项所述之方法,其中,当中心位置偏移量D2/D1越小时,该P値则越大,且该光源之均匀度越高。19.如申请专利范围第17项所述之方法,其中,当S値越接近1,该P値则越大,且该光源之均匀度越高。20.如申请专利范围第17项所述之方法,其中,当V'値或I値越大,该P値则越大,且该光源之亮度越高。图式简单说明:图一为本发明灯泡测试治具的示意图。图二为本发明量测灯泡特性之方法的操作流程图。图三系为图一所示之影像撷取装置受一灯泡照射所撷取之影像的示意图。图四系为图一所示之影像撷取装置受另一灯泡照射所撷取之影像的示意图。图五为图三、四所示之影像于横轴上的灰阶値分布示意图。 |
