| 发明名称 | LSI检查方法及装置、LSI检测器 | ||
| 摘要 | 对具有高速连接功能的物理层部(21)的检查对象LSI(20)进行检查。在检测板(2)上布置上包括事先确定好了为良品的参考LSI(10)的检查装置(1)，将LSI(10)及(20)的高速针和针连接起来。LSI检测器(3)低速地访问逻辑层部(12，22)，控制物理层部(11，21)间的高速通信，读出接收数据，判断检查对象LSI(20)的良否。 | ||
| 申请公布号 | CN1503911A | 申请公布日期 | 2004.06.09 |
| 申请号 | CN02808609.0 | 申请日期 | 2002.10.04 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 金光明彦;伊藤亘;渡边昭彦;野崎史郎;增田智充 |
| 分类号 | G01R31/3181 | 主分类号 | G01R31/3181 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汪惠民 |
| 主权项 | 1、一种LSI检查方法，用该方法对包括具有高速连接功能的物理层部的检查对象LSI进行检查，其特征是：安装有具有其功能与所述高速连接功能一样的物理层部及接在该物理层部上且具有低速连接功能的逻辑层部的第1参考装置，且将所述检查对象LSI安装在能与LSI检测器进行连接的检测板上；将所述第1参考装置的物理层部和所述检查对象LSI的物理层部电连接起来；由所述LSI检测器对所述第1参考装置及检查对象LSI进行信号接收、发送设定，由此而在所述第1参考装置的物理层部及所述检查对象LSI的物理层部之间进行高速通信；所述LSI检测器从所述第1参考装置或者检查对象LSI读出接收信号。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||