发明名称 Method and apparatus for determining an etch property using an endpoint signal
摘要
申请公布号 AU2003279826(A8) 申请公布日期 2004.06.07
申请号 AU20030279826 申请日期 2003.10.31
申请人 TOKYO ELECTRON LIMITED 发明人 HONGYU YUE;HIEU A. LAM
分类号 H01J37/32;(IPC1-7):H05H1/00;H01L21/00 主分类号 H01J37/32
代理机构 代理人
主权项
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