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发明名称 Verfahren und Apparat zur Messung der Dicke von duennen isolierenden Schichten
摘要
申请公布号 DE1040263(B) 申请公布日期 1958.10.02
申请号 DE1958V013782 申请日期 1958.01.30
申请人 RAGNAR VEIMO 发明人 VEIMO RAGNAR
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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