发明名称 使用预存储的权重的加权随机模式测试
摘要 公开了一种通过下载一系列随机加权的位到一个扫描链而测试集成电路的装置和方法,其中,每一位具有由权重发生器实时发生的被不同地确定的权重。该权重发生器有一个开关,该开关由一个特别为随机加权的位的每一位存储的位控制,所述随机加权的位确定所述位的权重。该控制信号被存储在存储器中,该控制信号与该位的产生同步的被下载到该开关中。优选地,该存储器在芯片上,并进一步是该集成电路的一部分。
申请公布号 CN1502045A 申请公布日期 2004.06.02
申请号 CN01822889.5 申请日期 2001.12.18
申请人 英特尔公司 发明人 C·-J·M·林;D·M·吴
分类号 G01R31/3185;G01R31/3183;G01R31/3181;G06F11/27 主分类号 G01R31/3185
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;梁永
主权项 1.一种电路,包括:芯片上的权重发生器电路,用于为芯片上的扫描链提供至少一个加权的测试数据位流,其中,每一所述数据位流的一测试数据位的权重依赖于数据集的被下载到该权重发生器电路的一相应数据字段;存储器,用于存储该数据集;以及数据下载电路,用于与给每一所述测试数据位流提供相应测试数据位的该权重发生器电路同步地从存储器下载该数据集的每一数据字段到该权重发生器电路。
地址 美国加利福尼亚州