发明名称 | 非线性修正扩展电离室量程范围的方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种非线性修正扩展量程范围的方法,在电离室饱和全收集情况下,其测量的剂量率De可由下式计算:De=Ie/Ke,Ie=C·ΔV/t;在电离室不饱和收集情况下,其测量的剂量率De可由下式计算:De=E·X<SUP>2</SUP>+F·X+G,X=Ie/Ke,Ie=C·ΔV/t。式中,De为剂量率,Ie为收集电流,Ke为电离室的灵敏度因子,C为积分电容,ΔV为积分定时结束与开始时电容上的电压差,t为积分定时时间,E、F、G为待定系数。通过非线性修正的方法,使充气电离室的工作范围扩大到不饱和收集区,以此扩展电离室的量程范围,使得只采用一个电离室就可跨越8个数量级的量程范围,从而实现对现有电离室测量方法的补充。经放射性计量一级站校准,仪器在此范围内满足基本误差小于±15%的要求。 | ||
申请公布号 | CN1152264C | 申请公布日期 | 2004.06.02 |
申请号 | CN02100720.9 | 申请日期 | 2002.01.21 |
申请人 | 中国辐射防护研究院 | 发明人 | 杨华庭;张世让;程昶;郭占杰 |
分类号 | G01T1/185 | 主分类号 | G01T1/185 |
代理机构 | 核工业专利中心 | 代理人 | 高尚梅 |
主权项 | 1.非线性修正扩展电离室量程范围的方法,其特征在于采用非线性修正方法,使电离室的工作范围扩大到不饱和收集区:a.饱和全收集情况下,电离室测量的剂量率De可由下式计算:De=Ie/Ke,Ie=C×ΔV/t;b.不饱和收集情况下,电离室测量的剂量率De可由下式计算:De=EX2+FX+G,X=Ie/Ke,Ie=C×ΔV/t;式中,De为剂量率,Ie为收集电流,Ke为电离室的灵敏度因子,C为积分电容,ΔV为积分定时结束与开始时电容上的电压差,t为积分定时时间,E、F、G为待定系数。 | ||
地址 | 030006山西省太原市 |