发明名称 具选择启动输出电路而用于测试模式之记忆装置及其测试方法
摘要 本发明提供一种记忆装置,例如DDRSDRAM,其中该装置的资料输出电路子集可被选择启动,用以于测试组态中让资料输出接脚集以相同的方式被连接。于部份具体实施例中,记忆装置包括复数个资料输出电路,个别的资料输出电路皆被配置成用以从个别的内部资料线中来接收资料,而且个别的资料输出电路都会被耦合至个别的资料输入/输出接脚。该装置进一步包括一资料输出控制电路,其可运作以回应一外加控制信号来选择启动该等复数个资料输出电路子集,以便驱动其个别对应的资料输入/输出接脚。该资料输出控制电路可运作以选择让该等复数个资料输出电路子集于其个别对应的资料输入/输出接脚上表现出高阻抗值。本发明可以装置与方法具体实施。
申请公布号 TW200409134 申请公布日期 2004.06.01
申请号 TW092123957 申请日期 2003.08.29
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 金成律;楚锺福;郑又燮
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国