| 摘要 |
本发明「嵌入式记忆体撷取时间量测方法及装置」主要目的系为降低量测成本，增加量测精确度、设计能整合于测试流程中，并转换为数位信号时间数据输出之记忆体撷取时间量测方法及装置。本发明之方法主要技术内容为在于配合记忆体测试之重复步骤，在将记忆体细胞元写入和背景相反资料、再读取时之撷取时间转为电压、电流、电荷、或其他参数，利用下一地址之上述前二步骤时间，同时以峰值侦测器比较并记录迄今记忆体撷取时间之最大值。本发明之装置特征在于量测开始时，使用控制信号以“窗式”比较峰值侦测器中现在撷取时间和以前所存时间最大值，以避开比较器延迟时间、安顿时间，使峰值侦测器中所储存之最大记忆体撷取时间值为正确值。 |
