发明名称 3:2拉下电影来源之侦测方法
摘要 一种3:2拉下电影来源之侦测方法。首先,接收一来源,并计算来源中具有相同类型的两个场之场差。然后,依据来源中相应至少一先前场之场差计算平均场差。之后,依据场差与平均场差,检查是否有一3:2拉下识别标志存在于来源中。此外,更依据来源之交错视格资讯来侦测来源中之坏编辑点。伍、(一)、本案代表图为:第5图。(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明:S501、S502、…、S517~操作步骤。
申请公布号 TW589876 申请公布日期 2004.06.01
申请号 TW092105169 申请日期 2003.03.11
申请人 矽统科技股份有限公司 发明人 林文国
分类号 H04N5/14 主分类号 H04N5/14
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路四段二七九号三楼;颜锦顺 台北市大安区信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种3:2拉下电影来源之侦测方法,包括下列步骤:接收一来源;计算该来源中具有相同类型的两个场之一场差;依据该来源中相应至少一先前场之场差,计算一平均场差;以及依据该场差与该平均场差,检查是否有一3:2拉下识别标志存在于该来源中。2.如申请专利范围第1项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,更包括依据该来源之一交错视格资讯来侦测一坏编辑点。3.如申请专利范围第2项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,其中该交错视格资讯指示一相应视格为一循序或一交错视格。4.一种3:2拉下电影来源之侦测方法,包括下列步骤:接收一来源;初始设定复数系数为零,该等系数包括一场索引n、一配对计数器、一模式计数器、一累积场差accDiff、与一平均场差aveDiff;计算该来源中具有相同类型的两个场F(n)与F(n+2)之一场差FieldDiff;将该场差FieldDiff与一第一临限値Fi_th与一变动(Adaptive)临限値Adap_th进行比对;如果该场差FieldDiff小于该Fi_th与该Adap_th,将该配对计数器增加1.且将该模式计数器、该accDiff、与该aveDiff设为0;若场差不小于该Fi_th或该Adap_th,将该模式计数器增加1.将该FieldDiff加至该accDiff、该aveDiff等于该accDiff除以该模式计数器,且该Adap_th等于该aveDiff乘上一系数K;以及当该配对计数器大于1且该模式计数器等于0时,侦测该来源为一3:2拉下电影来源。5.如申请专利范围第4项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,更包括当该配对计数器大于4时,该来源被侦测为非3:2拉下电影来源。6.如申请专利范围第4项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,更包括藉由判断包括相应该模式计数器等于3之录像场之一录像视格是否为一循序视格或是一交错视格来侦测3:2拉下电影序列中的坏编辑点。7.如申请专利范围第6项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,当该场为一下端场且该视格并非为一交错视格时,该坏编辑点于该来源中被侦测。8.如申请专利范围第6项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,当该场为一下端场且任何一该视格之后之相邻视格与该视格并非为交错视格时,该坏编辑点于该来源中被侦测。9.如申请专利范围第6项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,当该场为一上端场且该视格并非为一循序视格时,该坏编辑点于该来源中被侦测。10.如申请专利范围第4项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,更包括藉由判断分别相应该模式计数器为3与4之两场是否为循序来侦测该来源中之坏编辑点。11.如申请专利范围第10项所述之3:2拉下电影来源之侦测方法,其中对应该模式计数器为3之该场为一下端场。图式简单说明:第1图显示一应用至具有四个视格(A、B、C与D)的电影片段之3:2拉下程序例子。第2图显示一3:2拉下电影来源与其识别标志。第3图为一流程图系显示习知3:2拉下电影来源之侦测方法。第4图显示分别具有一好与一坏编辑点之3:2拉下序列。第5图为一流程图系显示依据本发明实施例之3:2拉下电影来源之侦测方法之操作流程。第6图显示一依据本发明实施例之坏编辑点侦测例子。
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