发明名称 多线程自动测试方法
摘要 一种多线程自动测试方法,系应用于一电脑硬体之测试过程,其可根据待测试项之唯一标识之间的互斥关系自动产生多线程之执行逻辑,在避免了测试冲突之情况下,采用适当之并行方式,为每一个互无冲突的各测试项分别建立测试线程,使其多线程并行执行测试,从而提高了测试效率和质量。该方法至少包含下列步骤:确定待测试项之唯一标识;根据唯一标识之间的互斥关系自动生成测试逻辑表;根据测试逻辑表规定之测试逻辑执行多线程测试过程。
申请公布号 TW589524 申请公布日期 2004.06.01
申请号 TW091123164 申请日期 2002.10.08
申请人 英业达股份有限公司 发明人 刘文涵;宋建福;史永军
分类号 G06F11/00 主分类号 G06F11/00
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路五段四一○号四楼
主权项 1.一种多线程自动测试方法,系应用于一电脑硬体之测试过程,其至少包括如下步骤:确定待测试项之唯一标识;根据唯一标识之间的互斥关系自动生成测试逻辑表;及根据测试逻辑表规定之测试逻辑执行多线程测试过程。2.如申请专利范围第1项所述之多线程自动测试方法,其中该唯一标识是待测试项之逻辑设备名称。3.如申请专利范围第1项所述之多线程自动测试方法,其中该唯一标识之资料格式是由"设备名称"和"测试项名称"两部分组成。4.如申请专利范围第1项所述之多线程自动测试方法,其中该自动生成测试逻辑表步骤,更包含下列步骤:取得所有待测试项之唯一标识,并将唯一标识写入测试逻辑表中;分析该唯一标识所对应的"设备名称",并写入测试逻辑表中;比较两测试项的设备名称;根据比较结果将得到的逻辑値填入测试逻辑表的相应栏位中;及判断当前所有测试项是否已经比较完毕,如果没有,则重新分析比较。5.如申请专利范围第4项所述之多线程自动测试方法,其中该根据比较结果将得到的逻辑値填入测试逻辑表的相应栏位中之步骤,如果该两个测试项的"设备名称"相同,则逻辑値设为no;如果该两个测试项"设备名称"不同,则逻辑値设为yes。6.如申请专利范围第1项所述之多线程自动测试方法,其中该唯一标识之间的互斥关系是根据待测试项的逻辑设备名称之"设备名称"是否相同而决定,如果相同,则满足互斥关系,如果不同,则不满足互斥关系。7.如申请专利范围第1项所述之多线程自动测试方法,其中该执行多线程测试过程的步骤中,系统使用两个伫列:测试项伫列和调度伫列。8.如申请专利范围第1项所述之多线程自动测试方法,其中该执行多线程测试过程之步骤,更包含下列步骤:起始时,测试项伫列容纳了全部待测试项,调度伫列为空;系统从测试项伫列中取得一个测试项放入调度伫列,并产生相应的测试线程;扫描在测试项伫列中所有测试项,从中找出所有与调度伫列中的测试项都能够并行运行之测试项,如果找到,则将此测试项移入调度伫列中,并产生相应的测试线程;如果调度伫列中的某一测试项执行完毕,则将其从调度伫列中移除,同时移除该测试项对应的测试线程;及判断测试项是否执行完毕,直至所有测试项执行完毕。9.如申请专利范围第8项所述之多线程自动测试方法,其中该步骤(3)中扫描的规则是按照测试逻辑表中确定的测试逻辑而决定的。10.如申请专利范围第7项所述之多线程自动测试方法,其中该测试项伫列中容纳了所有待执行之测试项。11.如申请专利范围第7项所述之多线程自动测试方法,其中该调度伫列中容纳了某时刻正在执行之测试项。图式简单说明:第1A图系传统串列测试方法示意图;第1B图系传统并行测试方法示意图;第2图系本发明所提之多线程自动测试方法之流程图;第3图系本发明所提之多线程自动测试方法中自动生成测试逻辑表之流程图;第4图系本发明所提之多线程自动测试方法中执行多线程测试过程之流程图;第5A-5F图系本发明所提之多线程自动测试方法中多线程调度过程之示意图;第6图系运用本发明之某测试情况下,所有测试项之树形结构图;第7图系运用本发明之某测试情况下,测试项之唯一标识的资料格式示意图;及第8图系运用本发明之某种测试情况下所生成的测试逻辑表。
地址 台北市士林区后港街六十六号