发明名称 供用于扫描器之光学定位系统使用的系统与方法
摘要 本发明系针对系统及方法论,其中光学扫描装置中的步进马达(或一DC马达/编码器之组合)系由能够接收来自扫描器中使用之延伸光电探测器或相当接近之第二光电探测器的回馈资讯之DC马达取代。时下扫描器之光电探测器可经过扩充(或者可将第二光电探测器并入)而读取位在或贴在扫描器本体上面的一个边缘记号,且扩充部分或分离光电探测器之解析度可获得增加以精确地撷取位置资讯。本发明之光电探测器可侦测通常位在文件扫描区之外的边缘记号,以判定处理器所使用之位置资讯,而精确地判定位置。
申请公布号 TW589866 申请公布日期 2004.06.01
申请号 TW091108328 申请日期 2002.04.23
申请人 惠普公司 发明人 萨拉M 布兰登伯格;柯特V 里迪格雷夫;道格拉斯G 凯斯里;史帝芬B 威特
分类号 H04N1/047;H04N1/04 主分类号 H04N1/047
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼;陈文郎 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种光学扫描系统,其包括有: 一个包含至少第一列光电探测器元件之光电探测 器; 经过定位之边缘记号,使至少其中个该光电探测器 元件能够检视出;以及 一个用于计算该列光电探测器对一扫描影像之位 置的处理器,该计算方式乃至少部分根据该边缘记 号之侦测而得。2.如申请专利范围第1项之光学扫 描系统,其更包括一个用于控制该光电探测器之曝 光时间量的曝光控制装置。3.如申请专利范围第1 项之光学扫描系统,其中边缘记号系一连串的对角 线。4.如申请专利范围第1项之光学扫描系统,其中 边缘记号乃位于一文件检视区域之外。5.如申请 专利范围第4项之光学扫描系统,其中边缘记号系 永久性地固定于扫描器系统本体上。6.如申请专 利范围第1项之光学扫描系统,其中该边缘记号系 单一影像的一个重复图案,而该处理器计算影像被 扫描之次数,以判定该列光电探测器元件之位置。 7.如申请专利范围第1项之光学扫描系统,其中配置 用以检视该边缘记号之该光电探测器元件系以较 其余之该光电探测器元件速度还高的速度运转。8 .如申请专利范围第1项之光学扫描系统,其中配置 用以检视该边缘记号之该光电探测器元件系以较 其余之该光电探测器元件还高的一个频率予以取 样。9.如申请专利范围第1项之光学扫描系统,其中 配置用以检视该边缘记号之该光电探测器元件系 比其余之该光电探测器元件感光性更佳。10.如申 请专利范围第1项之光学扫描系统,其中该光电探 测器包括至少第二列之光电探测器元件,其中该第 一列与该第二列光电探测器元件形成了一个阵列 。11.一种光学扫描方法,其步骤包括有: 以光学方式检测一文件检视区域中的文件影像; 以光学方式检测编码影像;以及 由检测出的该等编码影像计算检测文件影像之位 置。12.如申请专利范围第11项之方法,其步骤更包 括根据该计算位置调整曝光次数。13.如申请专利 范围第11项之方法,其中编码影像系永久性地固定 于扫描系统本体上。14.如申请专利范围第11项之 方法,其中该编码影像系一连串之重复影像。15.如 申请专利范围第11项之方法,其中该编码影像乃位 于该文件检视区域之外。16.一种光学扫描系统,其 包括有: 一个光学视窗; 一个光学检测器阵列,而使一部份之该线性光学检 测器阵列超出该光学视窗; 紧邻该光学视窗之检光码,并可利用该部分超出该 视窗之线性光学检测器阵列检测出; 一个可回应该检光码而提供位置资讯的逻辑电路; 以及 一个配置用以接收来自该逻辑电路之位置资讯的 驱动电路。17.如申请专利范围第16项之光学扫描 系统,其中光学检测器阵列系安装于一活动滑架中 。18.如申请专利范围第16项之光学扫描系统,其中 光学检测器阵列系电荷耦合装置。19.如申请专利 范围第16项之光学扫描系统,其中该驱动电路包括 一个DC马达。20.如申请专利范围第16项之光学扫描 系统,其中超出该光学视窗之该光学检测器阵列部 分包含了提供解析度异于位在该光学视窗内之光 学检测器的光学检测器。21.一种光学阵列,其包括 有: 一个包含第一及第二组光电探测器之光电探测器 阵列; 使该第一组光电探测器提供第一等级之第一像素 资料的装置; 使该第二组光电探测器提供较该第一等级更高之 第二等级的第二像素资料之装置;以及 一个提供与该第一像素资料交错之该第二像素资 料的输出。22.如申请专利范围第21项之光学阵列, 其更包括一个配置用以处理和该第一像素资料交 错之该第二像素资料的处理器。23.如申请专利范 围第21项之光学阵列,其中该第二像素资料系利用 分时多工方式与第一像素资料交错。24.如申请专 利范围第21项之光学阵列,其中该第二资料等级系 至少两倍于该第一资料等级。25.如申请专利范围 第21项之光学阵列,其中该第一组光电探测器之光 电探测器数目较第二组光电探测器之光电探测器 数目多。26.如申请专利范围第21项之光学阵列,其 中该第一组光电探测器之配置系使欲扫描媒体能 够成像,而该第二组光电探测器乃配置用以侦测该 光学阵列相对于该媒体之位置。27.如申请专利范 围第21项之光学阵列,其中该第一及第二组光电探 测器包含了多个光电探测器,该第二组之光电探测 器较该第一组之光电探测器的感光性更佳。28.如 申请专利范围第21项之光学阵列,其中该第一及第 二组光电探测器呈线性配置。29.如申请专利范围 第21项之光学阵列,其中该第二组光电探测器系配 置成多列。30.如申请专利范围第21项之光学阵列, 其中该第二像素资料乃用以提供成像资讯,从而推 测出定位资讯。31.一种光学扫描系统,其包括有: 一个光学视窗; 一个包含第一及第二组光电探测器之光电探测器 阵列; 一个促使该第一组光电探测器提供第一等级之第 一像素资料的第一时脉信号; 一个促使该第二组光电探测器提供较该第一等级 更高之第二等级的第二像素资料之第二时脉信号; 一个提供与该第一像素资料交错之该第二像素资 料的输出; 一个响应该第二像素资料而提供位置资讯的逻辑 电路;以及 一个配置用以接收来自该逻辑电路之资讯的驱动 电路。32.如申请专利范围第31项之光学扫描系统, 其中该光电探测器阵列系安装于一活动滑架中。 33.如申请专利范围第31项之光学扫描系统,其中该 光电探测器阵列包括有电荷耦合元件。34.如申请 专利范围第31项之光学扫描系统,其中该驱动电路 包括一个DC马达。35.如申请专利范围第31项之光学 扫描系统,其中该第二组光电探测器系超出该光学 视窗。图式简单说明: 第1图为根据本发明之实施例的一个平台型扫描器 图解; 第2图为第1图之平台型扫描器的影像阵列及平台 方位图解; 第3A至3E图为判定影像阵列对平台型扫描器底板之 位置的若干替代标记图解; 第4图为侦测边缘记号之成像元件图解; 第5A至5D图为包括用于侦测边缘记号之延伸部分的 一个影像阵列之若干替代实施例图解; 第6图为包含了文件及位置侦测部分的一列成像元 件图解,以及一显示出源自于此二个多时分工部份 之输出的时脉概图;以及 第7图为一时脉电路之概图,其系供用于从相关位 置探测显像元件多时分工输出至一源自于较大阵 列之文件显像元件的资料流。
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