发明名称 矽晶圆之制造方法及矽晶圆
摘要 依本发明,于矽晶圆之至少一侧的面上进行复数段之研磨的矽晶圆之制造方法,提供采用急速加热,急速冷却装置,在氢及氩之混合气体气围下取代该复数段之研磨的内,最后进行的研磨,进行热处理之矽晶圆的制造方法,及以此方法制造的矽晶圆。由而无晶圆表面之加工变形及损伤,表面粗度经予显着改善,且以高生产性的制造无滑移差排之矽晶圆。
申请公布号 TW589416 申请公布日期 2004.06.01
申请号 TW088121264 申请日期 1999.12.04
申请人 信越半导体股份有限公司 发明人 小林德弘;秋山昌次;阿部 孝夫
分类号 C30B29/06;C30B33/12;H01L21/306 主分类号 C30B29/06
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种矽晶圆之制造方法,其系于晶圆之至少一面 上进行多段研磨之矽晶圆的制造方法,其特征系采 用急速加热,急速冷却装置,在氢气之比率为20~40容 量%之氢气与氩气之混合气体气氛下进行热处理, 取代该多段研磨中最后进行的研磨。2.如申请专 利范围第1项之矽晶圆之制造方法,其中该热处理 系在1100~1300℃之温度进行1~60秒钟。3.一种矽晶圆, 系以申请专利范围第1或2项之方法所制造的矽晶 圆,其特征系于加工变形以PAD値计为12.5pm以下,表 面粗糙度以P-V値计在1.0nm以下,且无滑移差排。图 式简单说明: 第1图为表示出可急速加热,急速冷却矽晶圆之装 置的一例之概略图。
地址 日本