| 主权项 |
1.一种检修测试转接板,用以承载一中央处理器,使 得该中央处理器不用直接安装于一待检修主机板 上之一中央处理器插槽中,并可事先检测由该待检 修主机板供给该中央处理器之主机板电压是否过 载,包括有: 一卡板; 一中央处理器插槽,装设于该卡板上,用以安装该 中央处理器; 一转接插槽,装设于该卡板上,用以将该卡板安装 于该待检修主机板上之该中央处理器插槽;以及 一过载保护电路,耦接于该中央处理器插槽与该转 接插槽中之间,当该主机板电压为一异常电压时, 将该主机板电压输出至地端。2.如申请专利范围 第1项所述之检修测试转接板,其中该过载保护电 路包括有: 一电压比较电路,用以将该主机板电压与一参考电 压比较,当该主机板电压与该参考电压比较结果为 正常时,输出一正常电压,比较结果为异常时,输出 一异常电压; 一第一保护电路,与该电压比较电路输出端耦接, 用以将该正常电压输出为一第一致动电压;以及 一第二保护电路,与该电压比较电路输出端耦接, 用以将该异常电压输出为一第二致动电压。3.如 申请专利范围第2项所述之检修测试转接板,其中 该致动电压用以致动一第一开关,使得该主机板电 压可以输出至该中央处理器。4.如申请专利范围 第2项所述之检修测试转接板,其中该致动电压用 以致动一第二开关,使得该主机板电压可以输出至 地端。5.一种检修测试转接板,用以承载一中央处 理器,使得该中央处理器不用直接安装于一待检修 主机板上之一中央处理器插槽中,并可事先检测由 该待检修主机板供给该中央处理器之主机板电压 是否过载,包括有: 一卡板; 一中央处理器插槽,装设于该卡板上,用以安装该 中央处理器; 一转接插槽,装设于该卡板上,用以将该卡板安装 于该待检修主机板上之该中央处理器插槽;以及 一过载保护电路,耦接于该中央处理器插槽与该转 接插槽中间,当该待检修主机板输出之一主机板电 压为一异常电压时,将该异常电压输出至地端,包 括有: 一电压比较电路,用以将该主机板电压与一参考电 压比较,当该主机板电压与该参考电压比较结果为 正常时,输出一正常电压,比较结果为异常时,输出 一异常电压; 一第一保护电路,与该电压比较电路输出端耦接, 用以将该正常电压输出为一第一致动电压;以及 一第二保护电路,与该电压比较电路输出端耦接, 用以将该正常电压输出为一第二致动电压。6.如 申请专利范围第5项所述之检修测试转接板,其中 该第一致动电压用以致动一第一开关,使得该主机 板电压可以输出至该中央处理器。7.如申请专利 范围第6项所述检修测试转接板,其中该第一开关 为一电晶体。8.如申请专利范围第7项所述之检修 测试转接板,其中该开关系为一金氧半场效电晶体 。9.如申请专利范围第5项所述之检修测试转接板, 其中该第一开关更耦接有一第一指示单元,当该第 一开关致动时,用以指示该主机板电压已输出至该 中央处理器。10.如申请专利范围第9项所述之检修 测试转接板,其中该第一指示单元为一发光二极体 。11.如申请专利范围第5项所述之检修测试转接板 ,其中该第二致动电压用以致动一第二开关,使得 该主机板电压可以输出至一地端。12.如申请专利 范围第11项所述检修测试转接板,其中该第二开关 为一电晶体。13.如申请专利范围第12项所述之检 修测试转接板,其中该第二开关系为一双载子电晶 体。14.如申请专利范围第11项所述之检修测试转 接板,其中该第二开关更耦接有一第二指示单元, 当该第二开关致动时,用以指示该主机板电压已输 出至该地端。15.如申请专利范围第14项所述之检 修测试转接板,其中该第二指示单元为一发光二极 体。图式简单说明: 第1图,为本创作之检修测试转接板之架构示意图; 第2图,为本创作之过载保护电路之功能方块图;及 第3图,为本创作之过载保护电路之较佳实施例。 |
