| 发明名称 |
VORRICHTUNG ZUM TESTEN VON LEITERPLATTEN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE50006191(D1) |
申请公布日期 |
2004.05.27 |
| 申请号 |
DE20005006191 |
申请日期 |
2000.09.05 |
| 申请人 |
ATG TEST SYSTEMS GMBH & CO.KG |
发明人 |
PROKOPP, MANFRED |
| 分类号 |
G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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