| 主权项 |
1.一种电子元件测试分类装置,其主要系至少包括有一震动送料器、一输送平台、一运料盘、一定位模组及至少一测试模组,以提供电子元件之测试,其特征在:设有至少一分类圆盘,该分类圆盘上分别环设有复数置料孔可供已测试之电子元件之容置,并在分类圆盘之置料孔下方相对位置处各设置有一导料管,俾当经由测试后之电子元件移动至适当之导料管上方相对位置时,可由该置料孔内脱离,并经由导料管之承接及引导进行分类之收集及储存者。2.如申请专利范围第1项所述之电子元件测试分类装置,其中该分类圆盘之置料孔下方处各设有一活动档板,可遮蔽于该置料孔下方处,使电子元件可容置于该置料孔内,并配合在导料管一侧各设置有一拨动杆,当拨动杆作动时可藉以阻掣该活动档板,使活动档板产生侧移而打开置料孔,俾使其内所容置之电子元件可向置料孔下方进行脱离者。3.如申请专利范围第2项所述之电子元件测试分类装置,其中该拨动杆系藉由气压缸进行长短之作动者。4.如申请专利范围第1项所述之电子元件测试分类装置,其中该分类圆盘系以定量之速度及角度进行转动者。5.如申请专利范围第1项所述之电子元件测试分类装置,其中该分类圆盘上所设之置料孔数量需大于至少32孔者。图式简单说明:第1图:系习用分类测试装置的俯视示意图。第2图:系习用分类测试装置的前视示意图。第3图:系本发明分类测试装置的俯视示意图。第4图:系本发明分类测试装置的前视示意图。第5图:系本发明之分类圆盘的俯视示意图。第6图:系本发明之分类圆盘的前视示意图。第7图:系本发明之活动档板作动时的动作示意图。第8图:系本发明之拨动杆作动时的动作示意图。 |
