发明名称 | 硅与硅真空键合装置 | ||
摘要 | 涉及一种半导体器件或其部件的制造或处理,尤其是一种利用密封真空腔体和加力键合的硅与硅真空键合装置。设有上盖、底座和真空密封圈;真空密封圈设于上盖与底座之间;在上盖中由下表面至上盖外设管道,在底座中由上表面至底座外设管道,在上盖或底座中由真空腔内至外部设真空腔管道。可以实用于硅与硅、硅与玻璃、硅与硅重掺杂P+面、硅与碳化硅、硅与砷化镓材料的预键合,其优点是用于硅与硅真空加力键合工艺时,具有极强的预键合强度,可广泛应用在SOI硅片的生产,微机电(MEMS)器件中硅面与硅面、硅面与氧化层面、硅面与P+掺杂面、硅面与碳化硅面、硅与玻璃材料键合的工艺。其制作成本低,键合成功率高,工艺过程容易成批量生产。 | ||
申请公布号 | CN2617030Y | 申请公布日期 | 2004.05.19 |
申请号 | CN03203520.9 | 申请日期 | 2003.02.11 |
申请人 | 厦门大学 | 发明人 | 冯勇建;吴青海 |
分类号 | H01L21/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 厦门南强之路专利事务所 | 代理人 | 马应森 |
主权项 | 1、硅与硅真空键合装置,其特征在于设有上盖、底座和真空密封圈;真空密封圈设于上盖与底座之间;在上盖中由下表面至上盖外设管道,在底座中由上表面至底座外设管道,在上盖或底座中由真空腔内至外部设真空腔管道。 | ||
地址 | 361005福建省厦门市思明南路422号 |