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发明名称 METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICES
摘要
申请公布号 EP1419507(A2) 申请公布日期 2004.05.19
申请号 EP20020782677 申请日期 2002.08.21
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 CORDES, ERIC;EGGERS, GEORG, ERHARD;LUEPKE, JENS;STOCKEN, CHRISTIAN
分类号 G01R31/28;G11C7/10;G11C11/401;G11C29/50;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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