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Die Erfindung schafft ein Verfahren zur Qualitätskontrolle von Anschlusskugeln 102 von elektronischen Bauelementen 100, bei denen die Anschlusskugeln 102 auf einer flächigen Unterseite des Bauelements 100 angeordnet sind. Die Unterseite der Bauelemente 100 wird von einer steilen Beleuchtung 103a und von einer flachen Beleuchtung 103b beleuchtet, so dass unterschiedliche Lichtreflexe 104a und 104b erzeugt werden. Durch einen Vergleich der von den unterschiedlichen Beleuchtungen erzeugten Lichtreflexe, die jeweils einer Anschlusskugel 102 zugeordnet werden, mit Referenz-Lichtreflexen, kann die Qualität jeder einzelnen Anschlusskugel 102 bestimmt werden. Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass (a) die steile Beleuchtung 103a senkrecht von unten auf Bauelemente 100 trifft, dass (b) die flache Beleuchtung 103b von einer ringförmigen Beleuchtungseinheit erzeugt wird und somit die Anschlusskugeln 102 unter einem bestimmten Winkel von allen Seiten beleuchtet werden, und dass (c) die Lichtreflexe senkrecht zu der Unterseite der Bauelemente erfasst werden.
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