| 发明名称 |
In-circuit-Testen von Komponenten |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69432774(T2) |
申请公布日期 |
2004.05.13 |
| 申请号 |
DE19946032774T |
申请日期 |
1994.03.29 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INC., DALLAS;TEXAS INSTRUMENTS LTD., BEDFORD |
发明人 |
FATTORI, FRANK |
| 分类号 |
G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):H04L1/24;G01R31/28;G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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